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J-GLOBAL ID：200902195174750731   整理番号：00A0547268

走査プローブ酸化カイネティクスのための予言的模型

Predictive model for scanned probe oxidation kinetics.

著者 (7件)： DAGATA J A (National Inst. Standards and Technol., Maryland) ,  PEREZ-MURANO F (Univ. Autonoma de Barcelona, Barcelona, ESP) ,  ABADAL G (Univ. Autonoma de Barcelona, Barcelona, ESP) ,  MORIMOTO K (Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN) ,  INOUE T (Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN) ,  ITOH J (Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN) ,  YOKOYAMA H (Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 76  号： 19  ページ： 2710-2712  発行年： 2000年05月08日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査プローブによる酸化過程に対する模型を提案した。過渡的成長...

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： クロスオーバ

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分類 (2件)： その他の無触媒反応  (CB06070U) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査 ,  プローブ ,  酸化 ,  模型