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J-GLOBAL ID：200902195326997240   整理番号：96A0680917

ヘテロダイン走査型トンネル顕微鏡による高周波微振動の計測

Measurement of high frequency and small amplitude vibration using heterodyne scanning tunneling microscope.

著者 (3件)： 深谷政晴 (東京農工大) ,  高柳淳夫 (東京農工大) ,  梅田倫弘 (東京農工大)
資料名： 電磁力関連のダイナミクスシンポジウム講演論文集  (電磁力関連のダイナミックスシンポジウム講演論文集)
巻： 8th  ページ： 425-430  発行年： 1996年05月 
JST資料番号： L1079A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 光熱変位法において,励起レーザの変調周波数が数MHzになると...

シソーラス用語： 走査型トンネル顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： STM【顕微鏡】

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分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  振動の励起・発生・測定  (BB02030Z)

引用文献 (4件)：

• BINNIG, G. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 120
• AAMODT, L. C. J. Appl. Phys. 1983, 54, 581
• AMER, N. Appl. Phys. Lett. 1986, 49, 137
• OLMSTEAD, M. A. Appl. Phys. 1983, 32, 141

タイトルに関連する用語 (5件)： ヘテロダイン ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  高周波 ,  微振動 ,  計測