水素分子を含む電離プラズマの水素原子分光 線強度とイオン化率

SAWADA K; ERIGUCHI K; FUJIMOTO T

文献

J-GLOBAL ID：200902196045119126 整理番号：93A0653681

水素分子を含む電離プラズマの水素原子分光線強度とイオン化率

Hydrogen-atom spectroscopy of the ionizing plasma containing molecular hydrogen: Line intensities and ionization rate.

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巻： 73 号： 12 ページ： 8122-8125 発行年： 1993年06月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

励起原子密度の前回の計算[T.Fujimoto,K.Sawa...

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プラズマ一般

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水素分子を含む電離プラズマの水素原子分光 線強度とイオン化率

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