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J-GLOBAL ID:200902196489108724   整理番号:95A0908437

EMC/EMI-国際標準化技術における我が国の現状と課題 測定法の新たな展開 ステップ応答波形の解析による電気的特性の測定 折れ曲がり線路からの反射や放射の測定などへのTDRの活用

EMC/EMI: Current Status and Issues of International Standardization Technology in Japan. New Methodological Developments of Measurements. Measurement of the Electrical Properties by the Time-Domain Reflectometry.
著者 (1件):
資料名:
巻: 78  号:ページ: 845-846  発行年: 1995年09月 
JST資料番号: F0019A  ISSN: 0913-5693  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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プリント配線や電送線路の折れ曲がりによる不連続点からの不要電...
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雑音測定 
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