文献
J-GLOBAL ID：200902196675079173
整理番号：02A0488167
エリプソメトリー法を用いたミリ波帯誘電率推定方法の基礎検討
A fundamental study on measurement for dielectric constant of materials by ellipsometry method in millimeter-wave band.
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著者 (3件)：
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資料名：
巻：
102
号：
25(EMCJ2002 1-6)
ページ：
1-6
発行年：
2002年04月19日
JST資料番号：
S0532B
ISSN：
0913-5685
資料種別：
会議録 (C)
記事区分：
原著論文
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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自由空間法による複素誘電率の測定法の1つとして,光領域での屈...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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準シソーラス用語：
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分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
偏光測定と偏光計
, R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器
引用文献 (11件)：
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橋本修. 電波吸収体入門. 1997
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橋本修. フランジ付方形導波管を用いた複素誘電率の非破壊測定に関する検討. 計測研究会資料. 1997, IM97-21
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阿部琢美. 空洞共振器を用いた非破壊誘電率測定に関する検討. 信学技報. 1996, MW97-51
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鈴木道也. ミリ波帯における実行反射係数測定の一方法. 電学誌. 1960, 43, 11
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東田. ファインセラミックス技術者講座. 2001, 9
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タイトルに関連する用語 (5件)：
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