文献
J-GLOBAL ID:200902197595198917
整理番号:94A0079168
Microroughness at the Si/SiO2 interface from pre-oxidation annealing, measured using quantum oscillations in Fowler-Nordheim tunneling currents.
-
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=94A0079168©=1") }}
-
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0079168&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=K19930662") }}
著者 (3件):
,
,
資料名:
ページ:
139-142
発行年:
1993年
JST資料番号:
K19930662
ISBN:
1-55899-175-1
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (2件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
,
前のページに戻る