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J-GLOBAL ID:200902200247295489   整理番号:08A0104460

薄いGe層をもつ反転型拡張モードHfO2ベースGaAs金属-酸化物-半導体電界効果トランジスタ

Inversion-type enhancement-mode HfO2-based GaAs metal-oxide-semiconductor field effect transistors with a thin Ge layer
著者 (10件):
資料名:
巻: 92  号:ページ: 032907  発行年: 2008年01月21日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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薄いゲルマニウム(Ge)界面不動態化層(IPL)を使用して,GaAs HfO2ベース反転型拡張モード金属-酸化物-半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)を実現した。半絶縁性GaAs基板上のnチャンネルMOSFETは,ゲートバイアスによる表面変調と優れた電流制御を明確に示した。約0.5Vの閾値電圧,約0.25mS/mmの相互コンダクタンス,約130mV/decadeのサブ閾値変動,Vd=2VとVg=Vth+2Vで約162μA/mm(1μmのゲート長さに規格化)のドレイン電流を得た。以前の報告と比較して,Ge IPLとHfO2誘電体による反転型GaAs MOSFETのdc特性は非常に類似した結果を示した。(翻訳著者抄録)
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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トランジスタ  ,  金属薄膜 

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