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J-GLOBAL ID：200902201627487590   整理番号：08A1038538

Cu細線のコヒーレントX線回折測定

著者 (7件)： 古川隼人 (大阪大 大学院) ,  高橋幸生 (大阪大 大学院) ,  久保英人 (大阪大 工) ,  西野吉則 (理研) ,  山内和人 (大阪大 大学院) ,  石川哲也 (理研) ,  松原英一郎 (京大 大学院)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 21st  ページ： 84  発行年： 2007年12月20日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線トポグラフィー ,  *X線回折 ,  *銅 ,  空孔欠陥 ,  *細線 ,  エレクトロマイグレーション ,  *X線回折顕微鏡法 ,  コヒーレントX線

分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (3件)： Cu ,  細線 ,  コヒーレントX線