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J-GLOBAL ID：200902202738010748   整理番号：05A0494646

硬X線領域における50nm最外ゾーン幅を持つFresnelゾーンプレートの性能テスト

Performance Test of Fresnel Zone Plate with 50 nm Outermost Zone Width in Hard X-ray Region

著者 (4件)： SUZUKI Yoshio (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst./SPring-8, Hyogo, JPN) ,  TAKEUCHI Akihisa (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst./SPring-8, Hyogo, JPN) ,  TAKANO Hidekazu (Nihon Univ., Tokyo, JPN) ,  TAKENAKA Hisataka (NTT Advanced Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 44  号： 4A  ページ： 1994-1998  発行年： 2005年04月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 硬X線に関するマイクロ集束実験をFresnelゾーンプレート...

シソーラス用語： *Fresnelレンズ ,...

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分類 (2件)： 光デバイス一般  (BD06010L) ,  X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (15件)：

• 1) W. Yun, B. Lai, Z. Cai, J. Maser, D. Legnini, E. Gluskin, Z. Chen, A. A. Krasnoperova, Y. Vladimirsky, F. Cerrina, E. Di. Fabrizio and M. Gentili: Rev. Sci. Instrum. 70 (1999) 2238.
• 2) H. Takano, Y. Suzuki and A. Takeuchi: Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) L132.
• 3) K. Yamauchi, K. Yamamura, H. Mimura, Y. Sano, A. Saito, K. Endo, A. Souvorov, M. Yabashi, K. Tamasaku, T. Ishikawa and Y. Mori: Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) 7129.
• 4) Y. Mori, K. Yamauchi, K. Yamamura, H. Mimura, A. Saito, Y. Sano, K. Endo, A. Souvorov, M. Yabashi, K. Tamasaku and T. Ishikawa: Proc. SPIE 5193 (2003) 11.
• 5) K. Yamauchi, K. Yamamura, H. Mimura, Y. Sano, S. Matsuyama, H. Yumoto, K. Ueno, M. Shibahara, K. Endo, M. Yabashi, K. Tamasaku, Y. Nishino, T. Ishikawa and Y. Mori: to be published in Proc. SPIE 5533.

タイトルに関連する用語 (4件)： 硬X線 ,  ゾーン ,  Fresnelゾーンプレート ,  テスト