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J-GLOBAL ID:200902203024780147   整理番号:09A0812757

サファイア基板上の高結晶度のコランダム構造α-(Ga1-xFex)2O3合金薄膜の作製

Fabrication of Highly Crystalline Corundum-Structured α-(Ga1-xFex)2O3 Alloy Thin Films on Sapphire Substrates
著者 (4件):
資料名:
巻:号:ページ: 0755001.1-075501.3  発行年: 2009年07月25日 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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高結晶度のコランダム構造α-(Ga1-xFex)2O3合金薄膜をc面サファイア基板上にミスト化学蒸着法を用いて作製した。X線回折ロッキングカーブの半値全幅はx=0~1の全範囲で≦100arc秒であった。光バンドギャップは膜中のFe濃度(x)を変えてα-Ga2O3とα-Fe2O3の光バンドギャップの間の値(即ち2.2~5.3eV)に人工的に調整した。磁気測定からα-(Ga1-xFex)2O3(x=0.24)薄膜の強磁性を110Kで明らかにした。(翻訳著者抄録)
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金属薄膜 
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