走査型トンネル顕微鏡を用いる点接触法による単一分子の伝導率で観測されたS/Seアンカリングの結合ゆらぎ

YASUDA Satoshi; YOSHIDA Shoji; SASAKI Jiro; OKUTSU Yoshitaka; NAKAMURA Tohru; TANINAKA Atsushi; TAKEUCHI Osamu; SHIGEKAWA Hidemi

文献

J-GLOBAL ID：200902203535764433 整理番号：06A0530619

走査型トンネル顕微鏡を用いる点接触法による単一分子の伝導率で観測されたS/Seアンカリングの結合ゆらぎ

Bond Fluctuation of S/Se Anchoring Observed in Single-Molecule Conductance Measurements using the Point Contact Method with Scanning Tunneling Microscopy

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巻： 128 号： 24 ページ： 7746-7747 発行年： 2006年06月21日
JST資料番号： C0254A ISSN： 0002-7863 CODEN： JACSAT 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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