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J-GLOBAL ID：200902205065046116   整理番号：06A0982218

熱イオン場放射モデリングを用いたダイヤモンドSchottky障壁ダイオードの漏れ電流のキャラクタリゼーション

Characterization of leakage current on diamond Schottky barrier diodes using thermionic-field emission modeling

著者 (5件)： UMEZAWA Hitoshi (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...) ,  TOKUDA Norio (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...) ,  OGURA Masahiko (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...) ,  RI Sung-gi (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...) ,  SHIKATA Shin-ichi (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Center 2, Tsukuba ...)
資料名： Diamond and Related Materials  (Diamond and Related Materials)
巻： 15  号： 11-12  ページ： 1949-1953  発行年： 2006年11月 
JST資料番号： W0498A  ISSN： 0925-9635  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 非エピタキシャル晶子(NC)を持つダイヤモンド垂直Schot...

シソーラス用語： *ダイヤモンド ,...
準シソーラス用語： トンネル電流

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分類 (2件)： 炭素とその化合物  (YB02060D) ,  ダイオード  (NC03050R)

タイトルに関連する用語 (7件)： 熱イオン ,  放射 ,  モデリング ,  ダイヤモンド ,  Schottky障壁ダイオード ,  漏れ電流 ,  キャラクタリゼーション