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J-GLOBAL ID：200902205676867484   整理番号：05A0978593

透過電子顕微鏡法の最前線とセラミックス 収差補正STEMによるセラミック材料界面の局所構造解析

Interface Studies in Advanced Ceramics Using Aberration-corrected STEM

著者 (1件)： 柴田直哉 (東大 大学院工学系研究科 総合研究機構)
資料名： セラミックス  (Bulletin of the Ceramic Society of Japan)
巻： 40  号： 11  ページ： 914-917  発行年： 2005年11月01日 
JST資料番号： S0291A  ISSN： 0009-031X  CODEN： SERAA7  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 収差補正操作型透過電子顕微鏡(STEM)による窒化けい素の粒...

シソーラス用語： *窒化ケイ素 ,...

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分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (18件)：

• PENNYCOOK, S. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 938-941
• 阿部英司. 日本結晶学会誌. 2005, 47, 26-31
• PENNYCOOK, S. J. Advances in Imaging and Electron Physics. 2002, 123, 173-204
• YAN, Y. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 3675-3678
• DUSCHER, G. Nature Materials. 2004, 3, 621-626

タイトルに関連する用語 (8件)： 透過電子顕微鏡 ,  セラミックス ,  収差補正 ,  STEM ,  セラミック材料 ,  界面 ,  局所構造 ,  解析