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J-GLOBAL ID：200902207181208061   整理番号：09A0587830

偏光解析法を使用して液晶材の正規と特別屈率,液晶セルのセル厚みとプレチルト角を測定する非常に正確な方法

Highly Accurate Method for Measuring Ordinary and Extraordinary Refractive Indices of Liquid Crystal Materials, Cell Thickness, and Pretilt Angle of Liquid Crystal Cells Using Ellipsometry

著者 (4件)： OHNO Yuji (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ISHINABE Takahiro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MIYASHITA Tetsuya (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  UCHIDA Tatsuo (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 48  号： 5,Issue 1  ページ： 051502.1-051502.9  発行年： 2009年05月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1入射の波長-振幅比率特性と,3入射の波長-フェーズ遅延特性の測定と計算値の間の数値適合から,屈折率,液晶セル厚み,そして,プレチルト角を得られる。複数の干渉を考慮した新しい拡張Jonesマトリックス法を考案した。実験的に新しい方法,複数干渉3入射(MITI)法の正当性を確かめた。MITI方法を使用して,非常に正確なパラメータを得られる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 波長 ,  振幅 ,  位相 ,  遅れ ,  Jones行列 ,  干渉 ,  入射 ,  パラメータ ,  *液晶ディスプレイ ,  *偏光解析法 ,  屈折率

分類 (1件)： 液晶一般  (BK03010L)

引用文献 (15件)：

• T. Uchida: Proc. Int. Display Res. Conf., Euro Display 1981, Munich, 1981, p.39.
• T. Uchida: Opt. Eng. 23(1984) 247.
• T. Uchida, S. Yamamoto, and Y. Shibata: IEEE Trans. Electron Devices 30(1983) 503.
• T. J. Scheffer and T. Nehering: J. Appl. Phys. 48(1977) 1783.
• I. Haller, H. A. Huggins, and M. J. Freiser: Mol. Cryst. Liq. Cryst. 16(1972) 53.

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光解析法 ,  液晶 ,  液晶セル ,  プレチルト角