飛行時間型二次イオン質量分析法のためのC<sub>60</sub>一次イオンビームシステム  開発と二次イオン収率特性

WEIBEL D; WONG S; LOCKYER N; BLENKINSOPP P; HILL R; VICKERMAN J C

文献

J-GLOBAL ID：200902211166962989 整理番号：03A0264580

飛行時間型二次イオン質量分析法のためのC₆₀一次イオンビームシステム開発と二次イオン収率特性

A C₆₀ Primary Ion Beam System for Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry. Its Development and Secondary Ion Yield Characteristics.

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資料名：
巻： 75 号： 7 ページ： 1754-1764 発行年： 2003年04月01日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

有機物質のTOF-SIMSにおける日常分析のための,標題イオ...

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質量分析

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飛行時間型二次イオン質量分析法のためのC60一次イオンビームシステム 開発と二次イオン収率特性

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