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J-GLOBAL ID：200902212747719887   整理番号：06A0611045

光干渉により増強された反射近接場走査型光学顕微鏡を用いたナノチャンネルの高コントラストイメージング

High-Contrast Imaging of Nano-Channels Using Reflection Near-Field Scanning Optical Microscope Enhanced by Optical Interference

著者 (8件)： SAKAI Masaru (Kanagawa Acad. Sci. and Technol.(KAST), Kawasaki, JPN) ,  MONONOBE Shuji (Kanagawa Acad. Sci. and Technol.(KAST), Kawasaki, JPN) ,  AKIBA Shusaku (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  MATSUDA Akifumi (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  HARA Wakana (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  YOSHIMOTO Mamoru (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  SAIKI Toshiharu (Kanagawa Acad. Sci. and Technol.(KAST), Kawasaki, JPN) ,  SAIKI Toshiharu (Keio Univ., Yokohama, JPN)
資料名： Optical Review  (Optical Review)
巻： 13  号： 4  ページ： 266-268  発行年： 2006年08月01日 
JST資料番号： L2272A  ISSN： 1340-6000  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 反射(照明-収集)モードで動作する開口プローブを持つ近接場走...

シソーラス用語： *光学顕微鏡法 ,...
準シソーラス用語： *走査型光学顕微鏡

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分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

引用文献 (11件)：

• MATSUDA, K. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 177401
• HOSAKA, N. J. Microsc. 2001, 202, 362
• SAIKI, T. Tech. Dig. 6th Int. Conf. Near-Field Optics and Related Techniques (NFO-6), Univ. of Twente, Netherlands, 2000. 2000, 122
• SAIKI, T. JSAP Int. 2002, 5, 22
• SAKAI, M. Nanotechnology. 2004, 15, S362

タイトルに関連する用語 (7件)： 光干渉 ,  増強 ,  近接場 ,  走査型光学顕微鏡 ,  ナノチャンネル ,  高コントラスト ,  イメージング