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J-GLOBAL ID：200902212875725423   整理番号：08A0943364

Ir₄(CO)₁₂金属クラスター錯体膜を用いたTOF-SIMS用大質量マーカーの開発

著者 (5件)： 野中秀彦 (AIST) ,  中永泰介 (AIST) ,  藤原幸雄 (AIST) ,  齋藤直昭 (AIST) ,  藤本俊幸 (AIST)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 69th  号： 2  ページ： 625  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *金属クラスタ ,  *二次イオン質量分析 ,  X線光電子分光法 ,  多量体 ,  イリジウム錯体 ,  カルボニル錯体 ,  質量分析 ,  *TOF-SIMS
準シソーラス用語： 質量マーカ

分類 (2件)： 原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  質量分析  (CC03013N)

タイトルに関連する用語 (5件)： CO ,  クラスター錯体 ,  TOF-SIMS ,  マーカー ,  開発