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J-GLOBAL ID：200902214810244978   整理番号：05A0244161

X線波面解析および格子干渉計を用いた光学キャラクタリゼーション

X-ray wavefront analysis and optics characterization with a grating interferometer

著者 (5件)： WEITKAMP T (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  NOEHAMMER B (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DIAZ A (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DAVID C (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  ZIEGLER E (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 86  号： 5  ページ： 054101.1-054101.3  発行年： 2005年01月31日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光干渉的な方法により,硬X線波面の形状を測定した。ここでは,...

シソーラス用語： X線分析 ,...
準シソーラス用語： 過渡回折格子法

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分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線 ,  波面 ,  解析 ,  格子 ,  干渉計 ,  光学 ,  キャラクタリゼーション