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J-GLOBAL ID:200902214810244978   整理番号:05A0244161

X線波面解析および格子干渉計を用いた光学キャラクタリゼーション

X-ray wavefront analysis and optics characterization with a grating interferometer
著者 (5件):
資料名:
巻: 86  号:ページ: 054101.1-054101.3  発行年: 2005年01月31日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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光干渉的な方法により,硬X線波面の形状を測定した。ここでは,...
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
X線技術  ,  干渉測定と干渉計 

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