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J-GLOBAL ID：200902217295155621   整理番号：05A0891593

テスト特徴法に基づく逐次パタン学習とその時系列認識問題への応用

Succesive Pattern Learning based on Test Feature Classifier and its Application to Dynamic Recognition problems

著者 (3件)： 坂田幸辰 (北大 大学院情報科学研究科) ,  金子俊一 (北大 大学院情報科学研究科) ,  田中孝之 (北大 大学院情報科学研究科)
資料名： 情報処理学会シンポジウム論文集  (情報処理学会ワークショップ論文集)
巻： 2005  号： 画像の認識・理解シンポジウム(CD-ROM)  ページ： IS2-77  発行年： 2005年07月18日 
JST資料番号： Y0978B  ISSN： 1344-0640  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ノンパラメトリックなパタン分類法として考案されたテスト特徴分...

シソーラス用語： *パターン分類 ,...
準シソーラス用語： 逐次学習 ,...

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分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  人工知能  (JE08000Z)

タイトルに関連する用語 (6件)： テスト ,  逐次 ,  パタン ,  学習 ,  時系列 ,  応用