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J-GLOBAL ID：200902217554532552   整理番号：04A0668993

高解像度磁区画像のための集束イオンビーム加工CoPt磁気力顕微鏡チップ

Focused Ion Beam Milled CoPt Magnetic Force Microscopy Tips for High Resolution Domain Images

著者 (8件)： GAO L (Univ. Nebraska, NE, USA) ,  YUE L P (Univ. Nebraska, NE, USA) ,  YOKOTA T (Univ. Nebraska, NE, USA) ,  SKOMSKI R (Univ. Nebraska, NE, USA) ,  LIOU S H (Univ. Nebraska, NE, USA) ,  TAKAHOSHI H (Akita Univ., Akita, JPN) ,  SAITO H (Akita Univ., Akita, JPN) ,  ISHIO S (Akita Univ., Akita, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 40  号： 4,Pt.2  ページ： 2194-2196  発行年： 2004年07月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高保持力CoPt磁気力顕微鏡チップを集束イオンビーム加工によ...

シソーラス用語： *磁気力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： 磁区画像 ,...

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分類 (2件)： 磁性体測定技術・装置  (BM06030I) ,  金属の磁区及び磁化過程  (BM06112D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高解像度 ,  磁区 ,  集束イオンビーム ,  磁気力顕微鏡