文献

J-GLOBAL ID：200902217570105982   整理番号：06A0338285

走査型非線形誘電顕微鏡に湿度はどのように影響するか

How Humidity Affects on Scanning Nonlinear Dielectric Microscope

著者 (8件)： KURAMOCHI Hiromi (Res. Consortium for Synthetic Nano-Function Materials Project (SYNAF), National Inst. of Advanced Industrial Sci. ...) ,  KURAMOCHI Hiromi (SII Nanotechnology, JPN) ,  ANDO Kazunori (Res. Consortium for Synthetic Nano-Function Materials Project (SYNAF), National Inst. of Advanced Industrial Sci. ...) ,  ANDO Kazunori (SII Nanotechnology, JPN) ,  HASUMURA Satoshi (SII Nanotechnology, JPN) ,  WATANABE Kazutoshi (SII Nanotechnology, JPN) ,  YOKOYAMA Hiroshi (Res. Consortium for Synthetic Nano-Function Materials Project (SYNAF), National Inst. of Advanced Industrial Sci. ...) ,  YOKOYAMA Hiroshi (Nanotechnology Res. Inst., AIST, JPN)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 4  ページ： 454-459 (J-STAGE)  発行年： 2006年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 三つの異なるドーピング領域を持つパターンをつけた半導体表面試...

シソーラス用語： *非線形性 ,...

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分類 (1件)： 誘電体測定技術・装置  (BM05020Q)

引用文献 (23件)：

• [1] Y. Cho, A. Kirihara, and T. Saeki, Rev. Sci. Instrum. 67, 2297 (1996).
• [2] K. Ohara and Y. Cho, Integrated Ferroelectrics 50, 209 (2002).
• [3] Y. Cho, K. Ohara, and H. Odagawa, Ferroelectrics 269, 207 (2002).
• [4] K. Terabe, M. Nakamura, S. Takekawa, K. Kitamura, S. Higuchi, Y. Gotoh, and Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 81, 4401 (2002).
• [5] K. Ohara and Y. Cho, J. Appl. Phys. 96, 7460 (2004).

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型 ,  非線形 ,  顕微鏡 ,  湿度