文献

J-GLOBAL ID：200902219154697652   整理番号：03A0330519

球面収差を補正した高分解能透過電子顕微鏡によるSiO₂/Si(100)界面の高速観測

First observation of SiO₂/Si(100) interfaces by spherical aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy

著者 (4件)： TANAKA N (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  YAMASAKI J (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  USUDA K (Toshiba Co., Kawasaki, JPN) ,  IKARASHI N (NEC Co., Sagamihara, JPN)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 52  号： 1  ページ： 69-73  発行年： 2003年 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 断面モードで球面収差を補正した高分解能透過電子顕微鏡によって...

シソーラス用語： *球面収差 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0330519&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=W1384A") }}

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

引用文献 (9件)：

• JANA, J, ed. Physics and Chemistry of Finite Systems. 1992, 1
• ZHANG, Xiao-Feng eds. Progress in Transmission Electron Microscopy. 2001
• REIMER, L. Transmission Electron Microscopy. 1984
• HAIDER, M. Towards 0.1 nm resolution with the first spherically corrected transmission electron microscope. J. Electron Microsc. 1998, 47, 395-405
• TANAKA, N. Direct observation of nano-particles and interfaces by Cs-corrected TEM. Proc. ICEM-15. 2002, 1, 37-38

タイトルに関連する用語 (6件)： 球面収差 ,  高分解能透過電子顕微鏡 ,  SiO2 ,  Si ,  界面 ,  観測