TANAKA N について
Nagoya Univ., Nagoya, JPN について
YAMASAKI J について
Nagoya Univ., Nagoya, JPN について
USUDA K について
Toshiba Co., Kawasaki, JPN について
IKARASHI N について
NEC Co., Sagamihara, JPN について
Journal of Electron Microscopy について
球面収差 について
電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について
固体の表面構造一般 について
球面収差 について
高分解能透過電子顕微鏡 について
SiO2 について
Si について
界面 について
観測 について