文献

J-GLOBAL ID：200902219342511515   整理番号：05A0244165

検査へ応用するためのコンパクトな連続波サブテラヘルツシステム

Compact continuous-wave subterahertz system for inspection applications

著者 (7件)： KARPOWICZ N (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  ZHONG H (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  ZHANG C (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  LIN K-I (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  HWANG J-S (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  XU J (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  ZHANG X-C (Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 86  号： 5  ページ： 054105.1-054105.3  発行年： 2005年01月31日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子的な生成,検出法を用いた標記サブテラヘルツシステムについ...

シソーラス用語： Gunnダイオード ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0244165&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  発振回路  (NC05020Y)

タイトルに関連する用語 (4件)： 検査 ,  応用 ,  連続波 ,  サブテラヘルツ