文献

J-GLOBAL ID：200902219345731427   整理番号：09A0691180

コヒーレントX線回折顕微法によるナノ構造物の電子密度分布定量評価法の開発

著者 (7件)： 久保英人 (大阪大 大学院) ,  高橋幸生 (大阪大 大学院) ,  古川隼人 (大阪大 大学院) ,  山内和人 (大阪大 大学院) ,  西野吉則 (理研) ,  石川哲也 (理研) ,  松原英一郎 (京大 大学院)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 22nd  ページ： 133  発行年： 2009年 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線トポグラフィー ,  *電子密度 ,  *ナノ構造 ,  *X線回折 ,  集束イオンビーム ,  化学蒸着 ,  放射光施設 ,  光子計数 ,  X線検出 ,  *X線回折顕微鏡法 ,  コヒーレントX線 ,  SPring-8

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： コヒーレント ,  ナノ構造 ,  電子密度分布 ,  定量評価 ,  開発