μ粒子X線による非破壊元素深さプロフィル

KUBO M. K.; MORIYAMA H.; TSURUOKA Y.; SAKAMOTO S.; KOSETO E.; SAITO T.; NISHIYAMA K.

文献

J-GLOBAL ID：200902219475955378 整理番号：09A0039071

μ粒子X線による非破壊元素深さプロフィル

Non-destructive elemental depth-profiling with muonic X-rays

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資料名：

Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry (Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry)

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巻： 278 号： 3 ページ： 777-781 発行年： 2008年12月
JST資料番号： B0949B ISSN： 0236-5731 CODEN： JRNCDM 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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μ粒子を用いたX線元素分析法を開発した。この方法では,負電荷μ粒子の特性によって,試料内の三次元元素分布を非破壊的に得ることができた。入射μ粒子ビームエネルギーを選択し,μ粒子を捕獲する原子の情報を担う高エネルギーμ粒子X線を検出して,表面下数センチまでの深さプロフィルを得た。考古学試料(中国の青銅鏡及び模型唐三彩馬)に関する予備的分析を行った。

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