チャージポンピング測定と電気的モデリングによるHfO<sub>2</sub>技術におけるV<sub>T</sub>不安定性の徹底的な解析

文献

J-GLOBAL ID：200902221971351797 整理番号：07A1213395

チャージポンピング測定と電気的モデリングによるHfO₂技術におけるV_T不安定性の徹底的な解析

IN DEPTH ANALYSIS OF VT INSTABILITIES IN HFO₂ TECHNOLOGIES BY CHARGE PUMPING MEASUREMENTS AND ELECTRICAL MODELING

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資料名：
巻： 2007 Vol.1 ページ： 61-66 発行年： 2007年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

チャージポンピング(CP)測定とパルスId-Vg測定により,...

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トランジスタ , 固体デバイス計測・試験・信頼性

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