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J-GLOBAL ID：200902223626753591   整理番号：08A1040449

コヒーレントX線回折顕微法による金属材料の電子密度分布定量評価法の開発

著者 (7件)： 久保英人 (大阪大 大学院) ,  高橋幸生 (大阪大 大学院) ,  古川隼人 (大阪大 大学院) ,  山内和人 (大阪大 大学院) ,  西野吉則 (理研) ,  石川哲也 (理研) ,  松原英一郎 (京大 大学院)
資料名： 日本金属学会講演概要  (Collected Abstracts of the Meeting of the Japan Institute Metals)
巻： 143rd  ページ： 486  発行年： 2008年09月23日 
JST資料番号： S0988A  ISSN： 1342-5730  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電子密度 ,  密度分布 ,  コヒーレント光 ,  X線トポグラフィー ,  タングステン ,  評価 ,  フォトダイオード ,  *X線回折顕微鏡法
準シソーラス用語： 定量的評価

分類 (1件)： 金属組織観察法  (WB01010R)

タイトルに関連する用語 (5件)： コヒーレント ,  金属材料 ,  電子密度分布 ,  定量評価 ,  開発