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J-GLOBAL ID：200902224355426529   整理番号：05A0054591

La_1-xSr_xMnO₃膜の硬X線Mn2pコア準位光電子放出測定における強く遮蔽された状態の性質

Nature of the Well Screened State in Hard X-Ray Mn 2p Core-Level Photoemission Measurements of La_1-xSr_xMnO₃ Films

著者 (9件)： HORIBA K (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TAGUCHI M (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  IKENAGA E (JASRI, Hyogo, JPN) ,  TAKEUCHI A (JASRI, Hyogo, JPN) ,  NAMATAME H (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN) ,  KUMIGASHIRA H (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  LIPPMAA M (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  KAWASAKI M (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  KOINUMA H (Tokyo Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 93  号： 23  ページ： 236401.1-236401.4  発行年： 2004年12月03日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 硬X線(hν=5.95keV)を用いたLSMO薄膜のMn2p...

シソーラス用語： 光電子スペクトル ,...

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分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 硬X線 ,  コア準位 ,  光電子放出 ,  遮蔽 ,  性質