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J-GLOBAL ID：200902226054865686   整理番号：03A0106171

クラスタ一次イオンビームを用いた二次イオン質量分析

Secondary ion mass spectrometry using cluster primary ion beams.
著者 (2件)：
GILLEN G

GILLEN G について

(National Inst. Standards and Technol., MD, USA)

National Inst. Standards and Technol., MD, USA について

, 
FAHEY A

FAHEY A について

(National Inst. Standards and Technol., MD, USA)

National Inst. Standards and Technol., MD, USA について


資料名：
Applied Surface Science  (Applied Surface Science)

Applied Surface Science について


巻： 203/204  ページ： 209-213  発行年： 2003年01月15日 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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市販のSIMS機器を用いたクラスタ二次イオン質量分析は既に技...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*クラスタイオン

クラスタイオン について

,...
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分類 (2件)：
分類
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質量分析 
(CC03013N)

質量分析 について

,  高分子のスペクトル 
(CG02033O)

高分子のスペクトル について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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クラスタ

クラスタ について

, 
イオンビーム

イオンビーム について

, 
二次イオン質量分析

二次イオン質量分析 について


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