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J-GLOBAL ID：200902226532102090   整理番号：04A0614354

JFETのゲート電圧雑音の追跡に使用される相関関係測定

Cross-correlation measurements in searching for a trace of the gate voltage noise in a JFET

著者 (5件)： HASHIGUCHI S (Univ. Yamanashi, Kofu, JPN) ,  HOSONO S (Koito Ind., Ltd., Yokohama, JPN) ,  OHKI M (Univ. Yamanashi, Kofu, JPN) ,  TACANO M (Meisei Univ., Hino, JPN) ,  SIKULA J (Brno Univ. Technol., Brno, CZE)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 5470  ページ： 529-537  発行年： 2004年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 共通ゲート抵抗に接続した一対の接合型電界効果トランジスタ(J...

シソーラス用語： *接合形FET ,...
準シソーラス用語： フリッカ雑音

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分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： JFET ,  ゲート電圧 ,  雑音 ,  追跡 ,  相関関係