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J-GLOBAL ID：200902226628112690   整理番号：06A0510001

p-,真性,およびn-型ダイヤモンドについての二次光電子放出実験

Secondary photoelectron emission experiments on p-, intrinsic, and n-type diamond

著者 (5件)： TAKEUCHI D. (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Umezono, Tsukuba, 305-8568 Japan) ,  RI S.-g. (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Umezono, Tsukuba, 305-8568 Japan) ,  KATO H. (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Umezono, Tsukuba, 305-8568 Japan) ,  NEBEL C.e. (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Umezono, Tsukuba, 305-8568 Japan) ,  YAMASAKI S. (Diamond Res. Center, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Umezono, Tsukuba, 305-8568 Japan)
資料名： Diamond and Related Materials  (Diamond and Related Materials)
巻： 15  号： 4-8  ページ： 698-702  発行年： 2006年04月 
JST資料番号： W0498A  ISSN： 0925-9635  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 全光電子収率分光法(TPYS)により,水素終端および再構成ダ...

シソーラス用語： *光電子分光法 ,...

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分類 (1件)： 表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 型 ,  ダイヤモンド ,  光電子放出 ,  実験