WU Ernest Y について
IBM Microelectronics Div., VT, USA について
SUNE Jordi について
Univ. Autonoma de Barcelona, Bellaterra, ESP について
IEEE Electron Device Letters について
MOSFET について
TDDB について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
ゲート酸化物 について
ブレークダウン について
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