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J-GLOBAL ID：200902230062779559   整理番号：09A0152440

Bi₂Sr₂CaCu₂O₈固有Josephson接合積層におけるホットスポットと波:低温走査型レーザ顕微鏡法による研究

Hot Spots and Waves in Bi₂Sr₂CaCu₂O₈ Intrinsic Josephson Junction Stacks: A Study by Low Temperature Scanning Laser Microscopy

著者 (9件)： WANG H. B. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  GUENON S. (Univ. Tuebingen, Tuebingen, DEU) ,  YUAN J. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  IISHI A. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  ARISAWA S. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  HATANO T. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  YAMASHITA T. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  KOELLE D. (Univ. Tuebingen, Tuebingen, DEU) ,  KLEINER R. (Univ. Tuebingen, Tuebingen, DEU)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 102  号： 1  ページ： 017006.1-017006.4  発行年： 2009年01月09日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固有の大規模Josephson接合積層による同期的THz放射現象に関連して,低温走査型レーザ顕微鏡法による電場分布の画像取得を試みた。低バイアス域では,空洞モードの出現を確認し,また高入力域では,ホット点との相互作用を通じて定在波パターンを確認した。

シソーラス用語： 走査光学顕微鏡 ,  カルシウム化合物 ,  ストロンチウム化合物 ,  ビスマス化合物 ,  酸化物 ,  銅化合物 ,  *Josephson接合 ,  層 ,  定在波 ,  ホットスポット ,  *高温超伝導体
準シソーラス用語： レーザ顕微鏡 ,  BSCCO ,  積層 ,  電界分布

分類 (1件)： Josephson接合・素子  (BM04043E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 固有Josephson接合 ,  ホットスポット ,  波 ,  低温 ,  走査型レーザ顕微鏡法 ,  研究