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J-GLOBAL ID：200902230402994107   整理番号：07A0360143

低周波磁気検査システムを用いた積層構造内部の欠陥評価

著者 (5件)： 山田博信 (岡山大) ,  石原雄大 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大) ,  玉積正司 (宇野工業)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan)
巻： 2007  号： 1  ページ： 173  発行年： 2007年03月15日 
JST資料番号： S0653A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *欠陥検査 ,...

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分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低周波 ,  磁気検査 ,  積層構造 ,  欠陥 ,  評価