X線異常回折で調べた単結晶CaFeO<sub>3</sub>薄膜における電荷秩序状態

AKAO T; AZUMA Y; USUDA M; NISHIHATA Y; MIZUKI J; HAMADA N; HAYASHI N; TERASHIMA T; TAKANO M

文献

J-GLOBAL ID：200902234460799344 整理番号：03A0783196

X線異常回折で調べた単結晶CaFeO₃薄膜における電荷秩序状態

Charge-Ordered State in Single-Crystalline CaFeO₃ Thin Film Studied by X-Ray Anomalous Diffraction

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資料名：
巻： 91 号： 15 ページ： 156405.1-156405.4 発行年： 2003年10月10日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

単結晶CaFeO₃薄膜における電荷秩序...

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絶縁体結晶の電子構造 , X線回折法

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X線異常回折で調べた単結晶CaFeO3薄膜における電荷秩序状態

X線異常回折で調べた単結晶CaFeO₃薄膜における電荷秩序状態