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J-GLOBAL ID：200902235638348615   整理番号：09A0728640

X線ピンポイント構造計測による粉末試料1粒からの単結晶構造解析

Structure Analysis of a Submicrometer-Scale Single Powder Grain by the Pinpoint Structural Measurement

著者 (5件)： 安田伸広 (高輝度光科学研究セ) ,  福山祥光 (高輝度光科学研究セ) ,  KIM Jungeun (高輝度光科学研究セ) ,  木村滋 (高輝度光科学研究セ) ,  村山美乃 (中央大 理工)
資料名： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
巻： 51  号： 3  ページ： 201-204  発行年： 2009年06月30日 
JST資料番号： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： サブミクロンサイズ結晶の構造解析に有効なピンポイント構造計測装置の開発の概要を紹介し,応用例として,BaTiO₃粉末粒子1粒からの構造解析の結果を紹介した。微弱回折強度の高精度測定では,ゾーンプレート集光光学系による放射光X線の集光とフラックス密度の向上を図った。試料の回折計への正確なマウントと測定中の高精度試料保持に関しては,±100nm/360°の回転精度が可能なゴニオメータの使用で問題を解決した。粉末粒子1粒を取り出すための操作手法の確立が残る課題である。

シソーラス用語： *粉体 ,  *X線回折 ,  *構造解析 ,  結晶構造 ,  *チタン酸バリウム ,  *微粒子 ,  ゾーンプレート
準シソーラス用語： 粉末

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (8件)：

• 1) C. Riekel, M. Burghammer and G. Schertler: Curr. Opin. Struct. Biol. 15, 556 (2005).
• 2) C. Volkringer, D. Popov, T. Loiseau, N. Guillou, G. Ferey, M. Haouas, F. Taulelle, C. Mellot-Draznieks, M. Burghammer and C. Riekel: Nat. Mater. 6, 760 (2007).
• 3) 木村 滋, 田中義人:日本結晶学会誌 50, 354 (2008).
• 4) Y. Fukuyama, N. Yasuda, J. E. Kim, H. Murayama, Y. Tanaka, S. Kimura, K. Kato, S. Kohara, Y. Moritomo, T. Matsunaga, R. Kojima, N. Yamada, H. Tanaka, T. Ohshima and M. Takata: Appl. Phys. Express 1, 045001 (2008).
• 5) Y. Tanaka, Y. Fukuyama, N. Yasuda, J. Kim, H. Murayama, S. Kohara, H. Osawa, T. Nakagawa, S. Kimura, K. Kato, F. Yoshida, H. Kamioka, Y. Moritomo, T. Matsunaga, R. Kojima, N. Yamada, K. Toriumi, T. Ohshima, H. Tanaka and M. Takata: Jpn. J. Appl. Phys., 48, 03A001 (2009).

タイトルに関連する用語 (3件)： X線 ,  計測 ,  単結晶構造解析