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J-GLOBAL ID：200902237010446840   整理番号：07A0856985

非晶質シリコンフォトダイオード構造を用いる走査光誘起インピーダンス顕微鏡観察

Scanning Photoinduced Impedance Microscopy Using Amorphous Silicon Photodiode Structures

著者 (4件)： KRAUSE Steffi (Queen Mary Univ. London, London, GBR) ,  CHEN Li (Queen Mary Univ. London, London, GBR) ,  ZHOU Yinglin (Queen Mary Univ. London, London, GBR) ,  CHAZALVIEL Jean-Noel (Ecole Polytechnique, CNRS, Palaiseau, FRA)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 79  号： 16  ページ： 6208-6214  発行年： 2007年08月15日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査光誘起インピーダンス顕微鏡(SPIM)測定の基板として,...

シソーラス用語： ケイ素 ,...
準シソーラス用語： *イメージング ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  分析機器  (CC02020S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非晶質シリコン ,  フォトダイオード ,  走査 ,  光誘起 ,  インピーダンス ,  顕微鏡観察