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J-GLOBAL ID：200902238918871940   整理番号：09A1002673

高分解能コヒーレントX線回折顕微法の開発と金ナノケージの電子密度分布観察

著者 (8件)： 堤良輔 (大阪大 大学院) ,  高橋幸生 (大阪大 大学院) ,  是津信行 (大阪大 大学院) ,  久保英人 (大阪大 大学院) ,  山内和人 (大阪大 大学院) ,  西野吉則 (理研) ,  石川哲也 (理研) ,  松原英一郎 (京大 大学院)
資料名： 日本金属学会講演概要  (Collected Abstracts of the Meeting of the Japan Institute Metals)
巻： 145th  ページ： 532  発行年： 2009年09月15日 
JST資料番号： S0988A  ISSN： 1342-5730  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *金 ,  *ナノ構造 ,  電子密度 ,  *X線トポグラフィー
準シソーラス用語： X線回折顕微鏡法

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高分解能 ,  コヒーレント ,  開発 ,  金 ,  ナノケージ ,  電子密度分布 ,  観察