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J-GLOBAL ID：200902239325930459   整理番号：03A0508238

横シヤ波長走査干渉計を用いた透明板の屈折率と膜厚の測定法

Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates with a lateral-shear, wavelength-scanning interferometer.

著者 (4件)： COPPOLA G (Inst. Microelettronica e i Microsistemi, CNR, Naples, ITA) ,  FERRARO P (Inst. Microelettronica e i Microsistemi, CNR, Naples, ITA) ,  IODICE M (Inst. Microelettronica e i Microsistemi, CNR, Naples, ITA) ,  DE NICOLA S (Inst. Cibernetica “E. Caianiello”, CNR, Pozzuoli(Naples), ITA)
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 42  号： 19  ページ： 3882-3887  発行年： 2003年07月01日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透明板の屈折率と膜厚を同時計測する新しい方法を提案した。この...

シソーラス用語： *光干渉法 ,...

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分類 (2件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  光物性一般  (BM08010A)

タイトルに関連する用語 (8件)： シヤ ,  波長 ,  走査 ,  干渉計 ,  透明板 ,  屈折率 ,  膜厚 ,  測定法