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J-GLOBAL ID：200902239880235022   整理番号：08A0650827

レーザテラヘルツ監視システムのある化学センシングプレート

Chemical sensing plate with a laser-terahertz monitoring system

著者 (7件)： KIWA Toshihiko ,  KONDO Junichi ,  OKA Shohei ,  KAWAYAMA Iwao ,  YAMADA Hironobu ,  TONOUCHI Masayoshi ,  TSUKADA Keiji
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 47  号： 18  ページ： 3324  発行年： 2008年06月20日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 化学溶液の非接触調査用の新型レーザテラヘルツ放出システムを開発した。このシステムは,サファイア基板上の酸化けい素とけい素薄膜層からなるセンシングプレートからのテラヘルツ放出を監視した。1.68と10.01間のpH値をもつ化学溶液のセンシングを実証した。センシングプレートからのテラヘルツ放出の振幅は,pH値の増加とともに増加した。この振幅変化は,陽子がプレート表面上に吸着したときけい素薄膜層の欠乏層変化により引き起こされた。この研究は,化学溶液の完全非接触監視がレーザテラヘルツ放出システム下で可能であることを実証した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 光学的測定 ,  サブミリ波 ,  *化学センサ ,  非接触測定 ,  レーザビーム ,  光検出 ,  監視装置 ,  酸化ケイ素 ,  半導体薄膜 ,  発光 ,  陽子 ,  化学吸着 ,  pH【水素イオン指数】 ,  溶液 ,  空乏層 ,  化学分析 ,  *分光分析 ,  テラヘルツ波 ,  サファイア基板

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  分光分析  (CC03012W)

タイトルに関連する用語 (5件)： レーザ ,  テラヘルツ ,  監視システム ,  化学 ,  センシング