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J-GLOBAL ID：200902240679911522   整理番号：08A0468826

赤外吸収測定によるDNA薄膜の構造と物性評価

著者 (10件)： 田尻健治 (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  久保翔志 (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  山口桂司 (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  横井裕之 (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  渡邉純二 (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  黒田規敬 (熊本大 大学院自然科学研究科) ,  ハサヌディン (東北大 大学院理学研究科) ,  豊田直樹 (東北大 大学院理学研究科) ,  谷口正輝 (大阪大 産科研) ,  川合知二 (大阪大 産科研)
資料名： 熊本県産学官技術交流会講演論文集
巻： 21st  ページ： 84-85  発行年： 2007年 
JST資料番号： L6063A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *赤外吸収スペクトル ,  *DNA【核酸】 ,  スピンコーティング ,  *薄膜 ,  *膜厚 ,  屈折率 ,  温度依存性

分類 (1件)： 有機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08064T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 赤外吸収 ,  DNA ,  薄膜 ,  物性評価