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J-GLOBAL ID：200902244475147829   整理番号：09A0977949

金属ドープECRスパッタナノカーボン薄膜電極を用いた糖類の電気化学測定

著者 (8件)： 根岸貴幸 ,  加藤大 ,  上田晃生 ,  栗田僚二 ,  鎌田智之 ,  梅村茂 ,  廣野滋 ,  丹羽修
資料名： 電気化学秋季大会講演要旨集  (電気化学合同秋季大会講演要旨集)
巻： 2009  ページ： 134  発行年： 2009年09月10日 
JST資料番号： X0038A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *炭素電極 ,  電子サイクロトロン波 ,  スパッタリング ,  膜電極 ,  *金属材料 ,  クラスタ分子 ,  炭素 ,  サイクリックボルタンメトリー ,  *アノード酸化 ,  X線光電子分光法 ,  原子間力顕微鏡 ,  ニッケル ,  ドーピング ,  *アルドース ,  化学修飾電極 ,  ヘキソース ,  ナノカーボン ,  金ナノ粒子 ,  *金属ナノ粒子
準シソーラス用語： 薄膜電極

分類 (3件)： 単糖類  (CF10052H) ,  分析機器  (CC02020S) ,  電気化学反応  (CB07050F)

物質索引 (1件)： グルコース

タイトルに関連する用語 (4件)： ドープ ,  薄膜電極 ,  糖類 ,  電気化学