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J-GLOBAL ID：200902246328155835   整理番号：05A1046291

絶縁性ダイヤモンド薄膜中における電荷キャリア輸送特性評価手法の開発

著者 (7件)： 押木祐介 (北大 大学院) ,  辻勝英 (北大 大学院) ,  金子純一 (北大 大学院) ,  藤田文行 (北大 大学院) ,  本間彰 (北大 大学院) ,  寺地徳之 (大阪大 院) ,  古坂道弘 (北大 大学院)
資料名： ダイヤモンドシンポジウム講演要旨集
巻： 19th  ページ： 132-133  発行年： 2005年11月24日 
JST資料番号： L1241A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： キャリア移動度 ,...
準シソーラス用語： 平均自由行路

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分類 (1件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X)

タイトルに関連する用語 (6件)： 絶縁性 ,  ダイヤモンド薄膜 ,  電荷キャリア ,  輸送特性 ,  評価手法 ,  開発