文献

J-GLOBAL ID：200902247400285168   整理番号：04A0449103

Rf-GDOESによる銅に吸着したチオ尿素単分子層の深さ方向分析

Rf-GDOES depth profiling analysis of a monolayer of thiourea adsorbed on copper

著者 (5件)： SHIMIZU K (Keio Univ., Yokohama, JPN) ,  PAYLING R (Univ. Newcastle, NSW, AUS) ,  HABAZAKI H (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  SKELDON P (Univ. Manchester Inst. Sci. and Technol., Manchester, GBR) ,  THOMPSON G E (Univ. Manchester Inst. Sci. and Technol., Manchester, GBR)
資料名： Journal of Analytical Atomic Spectrometry  (Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻： 19  号： 5  ページ： 692-695  発行年： 2004年05月 
JST資料番号： C0770C  ISSN： 0267-9477  CODEN： JASPE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Rf-GDOESによるサブナノメータ厚み層の深さ方向分析を示...

シソーラス用語： *質量分析 ,...
準シソーラス用語： グロー放電質量分析

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0449103&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0770C") }}

分類 (2件)： 有機物質中の元素の物理分析  (CC03032S) ,  気体放電  (BJ03020T)

物質索引 (1件)： チオ尿素

タイトルに関連する用語 (8件)： RF ,  GDOES ,  銅 ,  吸着 ,  チオ尿素 ,  単分子層 ,  深さ方向 ,  分析