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J-GLOBAL ID：200902247480578063   整理番号：09A0286549

TOF-SIMSの植物細胞壁化学への応用

著者 (2件)： 齋藤香織 (名古屋大 大学院生命農学研究科) ,  福島和彦 (名古屋大 大学院生命農学研究科)
資料名： 植物の生長調節  (植物化学調節学会研究発表記録集)
巻： 43  号： 2  ページ： 156-163  発行年： 2008年12月19日 
JST資料番号： Z0892B  ISSN： 1346-5406  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 飛行時間型二次イオン分析(TOF-SIMS)は高い質量分解能...

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,...
準シソーラス用語： 質量分析イメージング ,...

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分類 (2件)： 植物形態学・解剖学  (EH01040Y) ,  生体膜一般  (EF04010G)

引用文献 (42件)：

• 今井貴規. 細胞内における抽出成分の生合成場所. 木質の形成 バイオマス科学への招待. 2003, 284-286
• 福島和彦. リグニンの沈着と分布. 木質の形成 バイオマス科学への招待. 2003, 199-207
• 福島和彦. ToF-SIMS (飛行時間型二次イオン質量分析) による木材化学研究. 木材学会誌. 2007, 53, 291-297
• BENNINGHOVEN, A. Surface investigation of solids by the statistical methods of secondary ion mass spectrometry (SIMS). Surf Sci. 1973, 35, 427-457
• BRUNELLE, A. Biological tissue imaging with time-of-flight secondary ion mass spectrometry and cluster ion sources. J Mass Spectrom. 2005, 40, 985-999

タイトルに関連する用語 (5件)： TOF-SIMS ,  植物 ,  細胞壁 ,  化学 ,  応用