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J-GLOBAL ID：200902249504260852   整理番号：07A0117651

辞書データを用いて全試験量を低減するための試験の改良と圧縮

Test Modification and Compression Technique for Reducing Total Test Volume with Dictionary Data

著者 (5件)： HAYASHI Terumine (Mie Univ., JPN) ,  HIRAIWA Naohiro (Mie Univ., JPN) ,  SHINOGI Tsuyoshi (Mie Univ., JPN) ,  TAKASE Haruhiko (Mie Univ., JPN) ,  KITA Hidehiko (Mie Univ., JPN)
資料名： 2005 6th International Conference on ASIC Proceedings, Book 2  (2005 6th International Conference on ASIC Proceedings, Book 2)
ページ： 639-644  発行年： 2005年 
JST資料番号： K20060039  ISBN： 0-7803-9210-8  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試験コストの低減は,デバイス技術と設計法の進歩により,最も重...

シソーラス用語： *半導体集積回路 ,...
準シソーラス用語： スキャン設計

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (2件)： 辞書データ ,  試験