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J-GLOBAL ID：200902251510005354   整理番号：06A0317683

NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について

On the Randomness Evaluation Method using NIST Randomness Test

著者 (4件)： 奥富秀俊 (東芝情報システム 技術企画部) ,  金田学 (東芝情報システム 技術企画部) ,  山口健二 (千葉大 大学院自然科学研究科) ,  中村勝洋 (千葉大 理)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 105  号： 662(IT2005 95-132)  ページ： 79-84  発行年： 2006年03月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 統計的な乱数性能の評価手段としてNIST乱数検定が広く使われ...

シソーラス用語： 擬似乱数 ,...
準シソーラス用語： 一様性 ,...

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分類 (1件)： 符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (4件)： NIST ,  乱数 ,  検定 ,  評価