文献

J-GLOBAL ID：200902251903930076   整理番号：07A0994516

高温XRD測定によるSrZrO₃薄膜のエピタキシャルな結晶化の観察

著者 (9件)： 野原佑太 (東北大 大学院) ,  佐多教子 (東北大 大学院) ,  鶴井隆雄 (東北大 金属材料研) ,  樋口透 (東京理大) ,  高橋謙介 (東北大 大学院) ,  長尾祐樹 (東北大 大学院) ,  長尾祐樹 (東北大) ,  井口史匡 (東北大 大学院) ,  湯上浩雄 (東北大 大学院)
資料名： 電気化学秋季大会講演要旨集  (電気化学合同秋季大会講演要旨集)
巻： 2007  ページ： 56  発行年： 2007年09月19日 
JST資料番号： X0038A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ストロンチウム化合物 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0994516&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=X0038A") }}

分類 (2件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (5件)： XRD ,  薄膜 ,  エピタキシャル ,  結晶化 ,  観察