スイッチング電圧パルスにより誘起されVO<sub>2</sub>薄膜中で観測される突然の金属-絶縁体転移

文献

J-GLOBAL ID：200902256365318820 整理番号：05A1019558

スイッチング電圧パルスにより誘起されVO₂薄膜中で観測される突然の金属-絶縁体転移

Abrupt metal-insulator transition observed in VO₂ thin films induced by a switching voltage pulse

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資料名：
巻： 369 号： 1-4 ページ： 76-80 発行年： 2005年12月01日
JST資料番号： H0676B ISSN： 0921-4526 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

2端末素子へのスイッチング電圧パルスを印加中にVO<sub>...

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金属-絶縁体転移

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