文献

J-GLOBAL ID：200902256569401646   整理番号：06A0255273

X線回折法における簡易定量プログラムの精度

Precision of Quantitative Analysis Software in X-Ray Diffraction

著者 (3件)： 宮内宏哉 (京都府中小企業技術セ) ,  中村知彦 (京都府中小企業技術セ) ,  日置正 (京都府中小企業技術セ)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 37  ページ： 247-256  発行年： 2006年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 従来,粉末X線回折法は主として金属やセラミックス粉体の結晶相...

シソーラス用語： *X線回折 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=06A0255273&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Z0547B") }}

分類 (2件)： 無機化合物の物理分析  (CC03024P) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

引用文献 (8件)：

• 北村照夫, 谷本繁美, 岩附正明, 西田慎太郎: 分析化学, 47, 211(1998).
• 立山博, 陣内和彦, 石橋 修, 木村邦夫, 恒松絹江, 諌山幸男: X線分析の進歩, 16, 237(1985).
• 貴家恕夫, 中村利広: X線分析の進歩, 3, 75(1972).
• 大野勝美, 川瀬晃, 中村利廣: “ x線分析法”, pp. 72-88(1987),(共立出版).
• 吉野和典, 掛川一幸, 佐々木義典: 日本セラミックス協会年会講演予稿集, 1992, p. 292(1992)。

タイトルに関連する用語 (3件)： X線回折法 ,  簡易 ,  定量